Проблема качества изделий электронной техники охватывает широкий круг вопросов, при решении которых существенное значение имеют взаимозаменяемость, стандартизация и технические измерения.
Взаимозаменяемость связывает в единое целое конструирование, технологию производства и контроль изделий.
Стандартизация и унификация деталей и элементов конструктивной и схемотехнической базы электронной аппаратуры способствуют ускорению и удешевлению конструирования и производства изделий.
Разработка, изготовление и эксплуатация электронной аппаратуры сопряжено с выполнением большого числа измерений. При этом получаемая измерительная информация может быть использована как в целях собственно измерения (нахождения значений физических величин), так и для выработки соответствующих суждений в процедурах контроля и диагностики и управляющих воздействий в системах управления. Так как измерительная техника является основным средством получения объективной информации о свойствах используемых объектов, то повышение качества продукции находится в прямой зависимости от степени метрологического обеспечения производства и состояния измерительной техники. Совершенствование электронной аппаратуры требует опережающего развития метрологии., поскольку для разработки аппаратуры с улучшенными техническими характеристиками необходимы более точные методы и средства технического контроля.
Цель курса «Основы метрологии, взаимозаменяемости и стандартизации» - дать представление о месте и роли метрологии, взаимозаменяемости и стандартизации в решении задач повышения технического уровня и качества изделий электронной техники; дать основы знаний по теории измерений и теории погрешностей измерений; дать общие сведения о взаимозаменяемости и ее размерной составляющей, о размерах и допусках на размер, о различных характерах соединений деталей и способах их обеспечения; дать основные понятия в области стандартизации, ее нормативных документах, о стандартизации в различных сферах деятельности человека.
Цель контрольной работы – изучить основные понятия и опреределения в области метрологии, основные вопросы теории измерений, теорию погрешностей измерений.
Другие публикации
Основные правила оформления схем
Создание изделий радиоэлектронной
аппаратуры начинается с разработки конструкторской документации, выполняемой в
соответствии с требованиями соответствующих ста ...
Однокристальные микроЭВМ семейства МК51
Восьмиразрядные высокопроизводительные однокристальные микроЭВМ (ОМЭВМ)
семейства МК51 выполнены по высококачественной n-МОП
технологий (серия 1816) и КМОП тех ...